中国科学院兰州化学物理研究所

专利

专利名称：	X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统
专利类别：	实用新型
第一发明人：	杨培菊；沈志强；黄晓卷；任伟；胡霄雪；何荔；刘佳梅；牛建中
其他发明人：	杨培菊；沈志强；黄晓卷；任伟；胡霄雪；何荔；刘佳梅；牛建中
申请号：
专利号：	201720239861.4
申请日期：	2017-03-13
专利授权日期：	2017-10-31
国外申请方式：
国外申请日期：
国外授权日期：
专利证书号：	6572943
专利摘要：
实施情况：
其他备注：

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