专利
专利名称: 一种超高真空红外光谱原位分析系统
专利类别: 实用新型
第一发明人: 严洁; 刘建; 高平; 孙晓军; 刘维民
其他发明人:
申 请 号: 201821375106.X
专 利 号:
申请日期: 2018年8月24日
专利授权日期: 2019年4月2日
国外申请方式:
国外申请日期:
国外授权日期:
专利证书号:
专利摘要:
实施情况:
其他备注:
未经中国科学院兰州化学物理研究所书面特别授权,请勿转载或建立镜像,违者依法必究