贺攀红，荣耀，连福龙，孟娟，林正金

（河南省核工业放射性核素检测中心，河南 郑州 450002）

摘要：报道了粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼，采用经验系数法校正了锶、铀等元素对钼的干扰，分段处理校准曲线使测定结果更准确，同时探讨了制样对测定结果的影响。方法精密度好(RSD为7.91%,n=11)，检出限可达到0.48 μg/g。测定过程简单、快速，测定结果与化学值吻合，非常适合地质样品的批量化测定。

关键词：X射线荧光光谱；钼；粉末压片；地质样品

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《分析测试技术与仪器》，2012, 18(4):213~216